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Comments on “Systematic procedure for test generation of PAL based circuits”
Gespeichert in:
Personen und Körperschaften: | |
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Titel: |
Comments on “Systematic procedure for test generation of PAL based circuits” |
In: | IEE Proceedings E Computers and Digital Techniques, 138, 1991, 2, S. 106 |
veröffentlicht: |
Institution of Engineering and Technology (IET)
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Umfang: | 106 |
ISSN: |
0143-7062 |
DOI: | 10.1049/ip-e.1991.0014 |
Format: | E-Article |
Quelle: | Institution of Engineering and Technology (IET) (CrossRef) |
Sprache: | Englisch |