Habenicht, H., Schubert, M C., & Warta, W.(2010). Imaging of chromium point defects in p-type silicon. Journal of Applied Physics, 108(3),
MLA ZitierstilHabenicht, Holger, Martin C. Schubert, and Wilhelm Warta. "Imaging of Chromium Point Defects in P-type Silicon". Journal of Applied Physics, 108.3 ( 2010 )
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