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Schiffmann, K I.(1993). Investigation of fabrication parameters for the electron-beam-induced deposition of contamination tips used in atomic force microscopy. Nanotechnology, 4(3), 163-169. doi:10.1088/0957-4484/4/3/006

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Schiffmann, K I. "Investigation of Fabrication Parameters for the Electron-beam-induced Deposition of Contamination Tips Used in Atomic Force Microscopy". Nanotechnology, 4.3 ( 1993 ): 163-169.

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