Eintrag weiter verarbeiten
Characterization of thin-film adhesion and phonon lifetimes in Al/Si membranes by picosecond ultrasonics
Gespeichert in:
Personen und Körperschaften: | , , , , , , , |
---|---|
Titel: |
Characterization of thin-film adhesion and phonon lifetimes in Al/Si membranes by picosecond ultrasonics |
In: | New Journal of Physics, 19, 2017, 5, S. 053019 |
veröffentlicht: |
IOP Publishing
|
Umfang: | 053019 |
ISSN: |
1367-2630 |
DOI: | 10.1088/1367-2630/aa6d05 |
Format: | E-Article |
Quelle: | IOP Publishing (CrossRef) |
Sprache: | Unbestimmt |