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Electrical characterization of the slow boron oxygen defect component in Czochralski silicon
Gespeichert in:
Personen und Körperschaften: | , , , , |
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Titel: |
Electrical characterization of the slow boron oxygen defect component in Czochralski silicon |
In: | physica status solidi (RRL) - Rapid Research Letters, 9, 2015, 12, S. 692-696 |
veröffentlicht: |
Wiley
|
Umfang: | 692-696 |
ISSN: |
1862-6254 |
DOI: | 10.1002/pssr.201510357 |
Format: | E-Article |
Quelle: | Wiley (CrossRef) |
Sprache: | Englisch |