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Predicting bulk lifetime values by applying wet chemistry H-termination for inline quality control of silicon wafers
Gespeichert in:
Personen und Körperschaften: | , , , , |
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Titel: |
Predicting bulk lifetime values by applying wet chemistry H-termination for inline quality control of silicon wafers |
In: | Energy Procedia, 124, 2017, S. 2-9 |
veröffentlicht: |
Elsevier BV
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Umfang: | 2-9 |
ISSN: |
1876-6102 |
DOI: | 10.1016/j.egypro.2017.09.332 |
Format: | E-Article |
Quelle: | Elsevier BV (CrossRef) |
Sprache: | Englisch |