Search for leptoquarks in electron–photon scattering at see up to 209 GeV at LEP

Bibliographic Details
Authors and Corporations: Abbiendi, G., Ainsley, C., Åkesson, P.F., Alexander, G., Allison, J., Anagnostou, G., Anderson, K.J., Arcelli, S., Asai, S., Axen, D., Azuelos, G., Bailey, I., Barberio, E., Barlow, R.J., Batley, R.J., Bechtle, P., Behnke, T., Bell, K.W., Bell, P.J., Bella, G., Bellerive, A., Benelli, G., Bethke, S., Biebel, O., Bloodworth, I.J., Boeriu, O., Bock, P., Böhme, J., Bonacorsi, D., Boutemeur, M., Braibant, S., Brigliadori, L., Brown, R.M., Burckhart, H.J., Cammin, J., Campana, S., Carnegie, R.K., Caron, B., Carter, A.A., Carter, J.R., Chang, C.Y., Charlton, D.G., Clarke, P.E.L., Clay, E., Cohen, I., Couchman, J., Csilling, A., Cuffiani, M., Dado, S., Dallavalle, G.M., Dallison, S., De Roeck, A., De Wolf, E.A., Dervan, P., Desch, K., Dienes, B., Donkers, M., Dubbert, J., Duchovni, E., Duckeck, G., Duerdoth, I.P., Etzion, E., Fabbri, F., Feld, L., Ferrari, P., Fiedler, F., Fleck, I., Ford, M., Frey, A., Fürtjes, A., Futyan, D.I., Gagnon, P., Gary, J.W., Gaycken, G., Geich-Gimbel, C., Giacomelli, G., Giacomelli, P., Giunta, M., Goldberg, J., Graham, K., Gross, E., Grunhaus, J., Gruwé, M., Günther, P.O., Gupta, A., Hajdu, C., Hamann, M., Hanson, G.G., Harder, K., Harel, A., Harin-Dirac, M., Hauschild, M., Hauschildt, J., Hawkes, C.M., Hawkings, R., Hemingway, R.J., Hensel, C., Herten, G., Heuer, R.D., Hill, J.C., Hoffman, K., Homer, R.J., Horváth, D., Hossain, K.R., Howard, R., Hüntemeyer, P., Igo-Kemenes, P., Ishii, K., Jawahery, A., Jeremie, H., Jones, C.R., Jovanovic, P., Junk, T.R., Kanaya, N., Kanzaki, J., Karapetian, G., Karlen, D., Kartvelishvili, V., Kawagoe, K., Kawamoto, T., Keeler, R.K., Kellogg, R.G., Kennedy, B.W., Kim, D.H., Klein, K., Klier, A., Kluth, S., Kobayashi, T., Kobel, M., Kokott, T.P., Komamiya, S., Kormos, L., Kowalewski, R.V., Krämer, T., Kress, T., Krieger, P., von Krogh, J., Krop, D., Kuhl, T., Kupper, M., Kyberd, P., Lafferty, G.D., Landsman, H., Lanske, D., Lawson, I., Layter, J.G., Leins, A., Lellouch, D., Letts, J., Levinson, L., Lillich, J., Littlewood, C., Lloyd, S.L., Loebinger, F.K., Lu, J., Ludwig, J., Macchiolo, A., Macpherson, A., Mader, W., Marcellini, S., Marchant, T.E., Martin, A.J., Martin, J.P., Martinez, G., Masetti, G., Mashimo, T., Mättig, P., McDonald, W.J., McKenna, J., McMahon, T.J., McPherson, R.A., Meijers, F., Mendez-Lorenzo, P., Menges, W., Merritt, F.S., Mes, H., Michelini, A., Mihara, S., Mikenberg, G., Miller, D.J., Moed, S., Mohr, W., Mori, T., Mutter, A., Nagai, K., Nakamura, I., Neal, H.A., Nisius, R., O'Neale, S.W., Oh, A., Okpara, A., Oreglia, M.J., Orito, S., Pahl, C., Pásztor, G., Pater, J.R., Patrick, G.N., Pilcher, J.E., Pinfold, J., Plane, D.E., Poli, B., Polok, J., Pooth, O., Quadt, A., Rabbertz, K., Rembser, C., Renkel, P., Rick, H., Rodning, N., Roney, J.M., Rosati, S., Roscoe, K., Rozen, Y., Runge, K., Rust, D.R., Sachs, K., Saeki, T., Sahr, O., Sarkisyan, E.K.G., Schaile, A.D., Schaile, O., Scharff-Hansen, P., Schröder, M., Schumacher, M., Schwick, C., Scott, W.G., Seuster, R., Shears, T.G., Shen, B.C., Shepherd-Themistocleous, C.H., Sherwood, P., Skuja, A., Smith, A.M., Snow, G.A., Sobie, R., Söldner-Rembold, S., Spagnolo, S., Spano, F., Sproston, M., Stahl, A., Stephens, K., Strom, D., Ströhmer, R., Surrow, B., Tarem, S., Tasevsky, M., Taylor, R.J., Teuscher, R., Thomas, J., Thomson, M.A., Torrence, E., Toya, D., Trefzger, T., Tricoli, A., Trigger, I., Trócsányi, Z., Tsur, E., Turner-Watson, M.F., Ueda, I., Ujvári, B., Vachon, B., Vollmer, C.F., Vannerem, P., Verzocchi, M., Voss, H., Vossebeld, J., Waller, D., Ward, C.P., Ward, D.R., Watkins, P.M., Watson, A.T., Watson, N.K., Wells, P.S., Wengler, T., Wermes, N., Wetterling, D., Wilson, G.W., Wilson, J.A., Wyatt, T.R., Yamashita, S., Zacek, V., Zer-Zion, D.
Title: Search for leptoquarks in electron–photon scattering at see up to 209 GeV at LEP
In: Physics Letters B, 526, 2002, 3-4, p. 233-246
published:
Elsevier BV
Physical Description:233-246
ISSN/ISBN: 0370-2693
Type of Resource:E-Article
Source:Elsevier BV (CrossRef)
Language: English